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產(chǎn)品目錄

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法蘭同軸法屏蔽效能測(cè)試波導(dǎo)管法屏蔽效能測(cè)試屏蔽室法屏蔽效能測(cè)試三同軸法屏蔽效能測(cè)試線(xiàn)注入法屏蔽效能測(cè)試接地板法測(cè)試系統(tǒng) 電流探頭法屏蔽測(cè)試系統(tǒng) 電磁導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	小同軸屏蔽效能測(cè)試裝置 HDS-85	小同軸屏蔽效能測(cè)試裝置HDS-85適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導(dǎo)電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量。
	微帶磁導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng) HRC-3D	HRC-3D微帶磁導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)，主要用于測(cè)量磁性薄膜材料的磁導(dǎo)率參數(shù)。該裝置與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連接，醉高測(cè)試頻率可到5GHz。
	波導(dǎo)管法屏蔽效能測(cè)試裝置 HDS-05	HDS-05波導(dǎo)管法屏蔽效能測(cè)試裝置是一套專(zhuān)門(mén)用于屏蔽效能（SE）測(cè)試的特殊波導(dǎo)組件，準(zhǔn)確計(jì)算并優(yōu)化的結(jié)構(gòu)保證了SE測(cè)試波導(dǎo)組件的低駐波比和低插入損耗值，從而有效保證SE測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。HDS-05波導(dǎo)管法屏蔽效能測(cè)試裝置符合目前國(guó)際上主流研究機(jī)構(gòu)推薦的屏蔽效能測(cè)試方法。
	微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置 HDS-18A	微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置HDS-18A適用于導(dǎo)電薄膜、薄型織物、金屬薄板、含導(dǎo)電涂覆層或鍍層的薄型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量，目前暫無(wú)標(biāo)準(zhǔn)與之對(duì)應(yīng)，微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置的測(cè)試原理同ASTM 4935-2010 規(guī)定的測(cè)試裝置。
	線(xiàn)注入法測(cè)試裝置 HT406S	電動(dòng)汽車(chē)連接器及屏蔽線(xiàn)纜系統(tǒng)的線(xiàn)注入法測(cè)試裝置,其特征在于,包括左注入裝置和右注入裝置,左注入裝置內(nèi)設(shè)有與連接器固定座的一端卡接的孔,連接器固定座的另一端設(shè)有與連接器一端匹配連接的開(kāi)口,右注入裝置內(nèi)設(shè)有與屏蔽線(xiàn)纜的一端卡接的孔,左注入裝置的頂部設(shè)有轉(zhuǎn)接頭,右注入裝置的頂部設(shè)有轉(zhuǎn)接頭,轉(zhuǎn)接頭與轉(zhuǎn)接頭之間通過(guò)注入線(xiàn)連接;連接器固定座中設(shè)有與連接器一端連接的電路板,電路板上固定有**電阻。
	GPM法測(cè)試系統(tǒng) ATA-L6	GPM法測(cè)試系統(tǒng)能夠克服三同軸法對(duì)于不同尺寸和形狀的連接系統(tǒng)需要重新設(shè)計(jì)和制造用于外部電路的屏蔽體的缺點(diǎn)，而且測(cè)試便捷對(duì)測(cè)試人員要求更低。
	電流探頭法測(cè)試系統(tǒng) HEMC-503	電流探頭法測(cè)試系統(tǒng)HEMC-503適合連接器尺寸20cm以?xún)?nèi)的公端連接器測(cè)試,基本滿(mǎn)足汽車(chē)領(lǐng)域 96%以上的連接器測(cè)試需求。
	屏蔽效能測(cè)試裝置 HEM-2108	EM-2108屏蔽效能測(cè)試裝置配有參考標(biāo)準(zhǔn)試樣、負(fù)載標(biāo)準(zhǔn)試樣和動(dòng)態(tài)范圍試樣。
	法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試 HDS-15	法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試HDS-15是根據(jù)《電磁屏蔽材料屏蔽效能測(cè)量方法》 GJB 6190-2008要求設(shè)計(jì)，法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試HDS-15可用來(lái)完成電磁屏蔽材料的屏蔽效能測(cè)試。
	屏蔽性能測(cè)試 CoMeT-40	屏蔽性能測(cè)試CoMeT-40是由 CoMeT 測(cè)試套管及相應(yīng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀組成。通過(guò)屏蔽性能測(cè)試CoMeT-40的封閉測(cè)試裝置，可以測(cè)試出大于 125dB 的屏蔽衰減和準(zhǔn)確到 μO(píng)hm 的轉(zhuǎn)移阻抗。
	三同軸法屏蔽性能測(cè)試 CoMeT-K	三同軸法屏蔽性能測(cè)試CoMeT-K 專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試Feed-through和EMC墊片的屏蔽效能，三同軸法屏蔽性能測(cè)試CoMeT-K是由 CoMeT 測(cè)試套管及相應(yīng)的網(wǎng)絡(luò)分析儀組成。
	法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試儀 HDS-35	HDS-35法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試儀適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導(dǎo)電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量，HDS-35法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試儀完全符合GB/T 25471-2010；GJB 6190-2008的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求。
	電流探頭法屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng) HDS-37133	電動(dòng)汽車(chē)按照GB/T 18387《電動(dòng)車(chē)輛測(cè)電磁場(chǎng)發(fā)射強(qiáng)度的限值和測(cè)量方法，寬帶，9 kHz~30 MHz》進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)超標(biāo)嚴(yán)重。究其原因，大多是由于電驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的高電壓、大電流造成的。為了抑制輻射騷擾的影響，應(yīng)采取相應(yīng)的屏蔽措施。高壓電纜是電驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的重要組成部分，電纜的屏蔽效能對(duì)電動(dòng)車(chē)電磁兼容性能影響很大。
	法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試裝置 HDS-15	HDS-15法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試裝置適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導(dǎo)電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量，HDS-15法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試裝置符合GJB 6190-2008標(biāo)準(zhǔn)的要求。
	CoMeT測(cè)試系統(tǒng) CoMeT-E	CoMeT測(cè)試系統(tǒng)CoMeT-E是一款專(zhuān)用測(cè)試功率電纜的CoMeT測(cè)試系統(tǒng)。
	線(xiàn)注入法蔽效能測(cè)試系統(tǒng) HT406CT	HT406C線(xiàn)注入法屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)是對(duì)線(xiàn)纜屏蔽效能更進(jìn)一步研究的測(cè)試方法，該方法在VG95214-11_2002_11【8】、IEC62153-4和IEC96-1,2/1993 修改版中有詳細(xì)描述。我們采用頻譜分析儀來(lái)進(jìn)行屏蔽效能的測(cè)試，適用于頻段在100kHz-3GHz。
	小窗法屏蔽效能測(cè)試箱 HDS-18S	小窗法屏蔽效能測(cè)試箱適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導(dǎo)電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電玻璃、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電介質(zhì)板、導(dǎo)電復(fù)合材料等平板型材料微波頻段屏蔽效能的測(cè)量。小窗法屏蔽效能測(cè)試箱適用標(biāo)準(zhǔn)：GJB6190-2008；MIL-DTL-83528-C（參考）。
	屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng) HSJA16	NS800分光色差儀采用了組合LED精密分光的原理，將光線(xiàn)按一定波長(zhǎng)間隔分開(kāi)，然后采用若干組傳感器陣列進(jìn)行感光分析。NS800分光色差儀的精度更高，對(duì)任何顏色都非常敏感，除了準(zhǔn)確測(cè)量Lab值、dE值之外，還可以直接顯示光譜反射率曲線(xiàn)，可以實(shí)現(xiàn)配色功能，也可以**計(jì)算出各種色差儀公式的真正參數(shù)。